+7 (499) 113-42-74

Работаем по всей России

Закрыть
Закрыть

ОКС. Общероссийский классификатор стандартов

База ГОСТов РФ

Общероссийский классификатор стандартовЭЛЕКТРОНИКАИнтегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160

31.200. Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160

1 2 3 4 513 14 15 16 17 18 19 20 21

  • ГОСТ 27694-88.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения электрических параметров
    Integrated circuits. Low-, intermediate- and high-frequency amplifiers. Methods for measuring electric parameters
    Настоящий стандарт распространяется на усилители низкой, промежуточной и высокой частоты и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров
  • ГОСТ 27780-88.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Коммутаторы и ключи. Методы измерения электрических параметров
    Integrated circurts. Multiplexers and switches. Methods for measurement of electric parameters
    Настоящий стандарт распространяется на микросхемы класса коммутаторов и ключей и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров микросхем
  • ГОСТ 27780-88.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Коммутаторы и ключи. Методы измерения электрических параметров
    Integrated circurts. Multiplexers and switches. Methods for measurement of electric parameters
    Настоящий стандарт распространяется на микросхемы класса коммутаторов и ключей и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров микросхем
  • ГОСТ 27780-88.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Коммутаторы и ключи. Методы измерения электрических параметров
    Integrated circurts. Multiplexers and switches. Methods for measurement of electric parameters
    Настоящий стандарт распространяется на микросхемы класса коммутаторов и ключей и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров микросхем
  • ГОСТ 28111-89.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросборки на цилиндрических магнитных доменах. Термины и определения
    Bubble memory device. Terms and definitions
    Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий в области микросборок на цилиндрических магнитных доменах
  • ГОСТ 28111-89.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросборки на цилиндрических магнитных доменах. Термины и определения
    Bubble memory device. Terms and definitions
    Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий в области микросборок на цилиндрических магнитных доменах
  • ГОСТ 28111-89.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросборки на цилиндрических магнитных доменах. Термины и определения
    Bubble memory device. Terms and definitions
    Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий в области микросборок на цилиндрических магнитных доменах
  • ГОСТ 28623-90.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы
    Semiconductor devices. Part 10. General specification for discrete devices and integrated circuits
    Настоящий стандарт устанавливает общие технические условия на полупроводниковые приборы, дискретные приборы и интегральные микросхемы, включая многокристальные микросхемы, за исключением оптоэлектронных приборов и интегральных микросхем
  • ГОСТ 28623-90.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы
    Semiconductor devices. Part 10. General specification for discrete devices and integrated circuits
    Настоящий стандарт устанавливает общие технические условия на полупроводниковые приборы, дискретные приборы и интегральные микросхемы, включая многокристальные микросхемы, за исключением оптоэлектронных приборов и интегральных микросхем
  • ГОСТ 28623-90.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы
    Semiconductor devices. Part 10. General specification for discrete devices and integrated circuits
    Настоящий стандарт устанавливает общие технические условия на полупроводниковые приборы, дискретные приборы и интегральные микросхемы, включая многокристальные микросхемы, за исключением оптоэлектронных приборов и интегральных микросхем

1 2 3 4 513 14 15 16 17 18 19 20 21