+7 (499) 113-42-74

Работаем по всей России

Закрыть
Закрыть
Главная / База ГОСТов РФ

ОКС. Общероссийский классификатор стандартов

База ГОСТов РФ

Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА

31. ЭЛЕКТРОНИКА

← 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 … 245 246 247 248 249 →

  • ГОСТ 4.465-87.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Система показателей качества продукции. Микросхемы интегральные. Номенклатура показателей
    Product-quality index system. Integratet circuits. Index nomenclature
    Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества интегральных микросхем, включаемых в технические задания на научно-исследовательские работы (ТЗ на НИР) по определению перспектив развития этой группы, государственный стандарт с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и пересматриваемые стандарты на продукцию, технические задания на опытно-конструкторские работы (ТЗ на ОКР), технические условия (ТУ), карты технического уровня и качества продукции (КУ)
  • ГОСТ 4.465-87.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Система показателей качества продукции. Микросхемы интегральные. Номенклатура показателей
    Product-quality index system. Integratet circuits. Index nomenclature
    Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества интегральных микросхем, включаемых в технические задания на научно-исследовательские работы (ТЗ на НИР) по определению перспектив развития этой группы, государственный стандарт с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и пересматриваемые стандарты на продукцию, технические задания на опытно-конструкторские работы (ТЗ на ОКР), технические условия (ТУ), карты технического уровня и качества продукции (КУ)
  • ГОСТ 5.2105-73.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микроскоп лазерный эллипсометрический ЛЭМ-2. Требования к качеству аттестованной продукции
    Laser ellipsometric microscope ЛЭМ-2. Quality requirements of sertified products
    Настоящий стандарт распространяется на лазерный эллипсометрический микроскоп ЛЭМ-2, предназначенный для определения эллипсометрических параметров поляризованного света, определяемых по углам поворота оптических элементов в момент погасания, что позволяет использовать прибор для измерения толщины и показателя преломления прозрачных диэлектрических покрытий на отражающих полированных поверхностях различных материалов и, в частности, на полупроводниковых пластинах, а также для контроля равномерности и однородности диэлектрических пленок по площади и определения наличия и толщины окисла в окнах, вытравленных в процессе изготовления полупроводниковых приборов
  • ГОСТ 5.2105-73.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микроскоп лазерный эллипсометрический ЛЭМ-2. Требования к качеству аттестованной продукции
    Laser ellipsometric microscope ЛЭМ-2. Quality requirements of sertified products
    Настоящий стандарт распространяется на лазерный эллипсометрический микроскоп ЛЭМ-2, предназначенный для определения эллипсометрических параметров поляризованного света, определяемых по углам поворота оптических элементов в момент погасания, что позволяет использовать прибор для измерения толщины и показателя преломления прозрачных диэлектрических покрытий на отражающих полированных поверхностях различных материалов и, в частности, на полупроводниковых пластинах, а также для контроля равномерности и однородности диэлектрических пленок по площади и определения наличия и толщины окисла в окнах, вытравленных в процессе изготовления полупроводниковых приборов
  • ГОСТ 5.2105-73.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микроскоп лазерный эллипсометрический ЛЭМ-2. Требования к качеству аттестованной продукции
    Laser ellipsometric microscope ЛЭМ-2. Quality requirements of sertified products
    Настоящий стандарт распространяется на лазерный эллипсометрический микроскоп ЛЭМ-2, предназначенный для определения эллипсометрических параметров поляризованного света, определяемых по углам поворота оптических элементов в момент погасания, что позволяет использовать прибор для измерения толщины и показателя преломления прозрачных диэлектрических покрытий на отражающих полированных поверхностях различных материалов и, в частности, на полупроводниковых пластинах, а также для контроля равномерности и однородности диэлектрических пленок по площади и определения наличия и толщины окисла в окнах, вытравленных в процессе изготовления полупроводниковых приборов
  • ГОСТ 12.1.031-81.
    утратил силу в РФ
    от: 01.08.2013
    Система стандартов безопасности труда. Методы дозиметрического контроля лазерного излучения
    Occupational safety standards system. Lasers. Methods of dosimetrical control of laser radiation
    Настоящий стандарт устанавливает методы измерений параметров лазерного излучения в диапазоне длин волн от 0,2 до 20 мкм в заданной точке пространства с целью определения степени опасности излучения для организма человека. Стандарт обязателен для всех министерств и ведомств СССР, разрабатывающих и эксплуатирующих лазеры
  • ГОСТ 12.1.031-81.
    утратил силу в РФ
    от: 01.08.2013
    Система стандартов безопасности труда. Методы дозиметрического контроля лазерного излучения
    Occupational safety standards system. Lasers. Methods of dosimetrical control of laser radiation
    Настоящий стандарт устанавливает методы измерений параметров лазерного излучения в диапазоне длин волн от 0,2 до 20 мкм в заданной точке пространства с целью определения степени опасности излучения для организма человека. Стандарт обязателен для всех министерств и ведомств СССР, разрабатывающих и эксплуатирующих лазеры
  • ГОСТ 12.1.031-81.
    утратил силу в РФ
    от: 01.08.2013
    Система стандартов безопасности труда. Методы дозиметрического контроля лазерного излучения
    Occupational safety standards system. Lasers. Methods of dosimetrical control of laser radiation
    Настоящий стандарт устанавливает методы измерений параметров лазерного излучения в диапазоне длин волн от 0,2 до 20 мкм в заданной точке пространства с целью определения степени опасности излучения для организма человека. Стандарт обязателен для всех министерств и ведомств СССР, разрабатывающих и эксплуатирующих лазеры
  • ГОСТ 12.2.007.5-75.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Система стандартов безопасности труда. Конденсаторы силовые. Установки конденсаторные. Требования безопасности
    Occupation safety standards system. Safety requirements. Power capacitors. Capacitor installations
    Настоящий стандарт распространяется на:
    конденсаторные установки;
    силовые конденсаторы, предназначенные для обеспечения высокочастотной связи по линиям электропередач, для делителей напряжения и отбора мощности, для продольной компенсации, для повышения коэффициента мощности, импульсные, фильтровые;
    силовые конденсаторы и конденсаторные батареи для электротермических установок. Стандарт не распространяется на конденсаторы, применяемые в электронной аппаратуре
  • ГОСТ 12.2.007.5-75.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Система стандартов безопасности труда. Конденсаторы силовые. Установки конденсаторные. Требования безопасности
    Occupation safety standards system. Safety requirements. Power capacitors. Capacitor installations
    Настоящий стандарт распространяется на:
    конденсаторные установки;
    силовые конденсаторы, предназначенные для обеспечения высокочастотной связи по линиям электропередач, для делителей напряжения и отбора мощности, для продольной компенсации, для повышения коэффициента мощности, импульсные, фильтровые;
    силовые конденсаторы и конденсаторные батареи для электротермических установок. Стандарт не распространяется на конденсаторы, применяемые в электронной аппаратуре

← 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 … 245 246 247 248 249 →