+7 (499) 113-42-74

Работаем по всей России

Закрыть
Закрыть

ОКС. Общероссийский классификатор стандартов

База ГОСТов РФ

Общероссийский классификатор стандартовЭЛЕКТРОНИКАПолупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045Диоды

31.080.10. Диоды

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14

  • ГОСТ 19656.14-79.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ переключательные. Метод измерения критической частоты
    Semiconductor microwave switching diodes. Measurement method of critical frequency
    Настоящий стандарт распространяется на переключательные СВЧ полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения критической частоты
  • ГОСТ 19656.14-79.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ переключательные. Метод измерения критической частоты
    Semiconductor microwave switching diodes. Measurement method of critical frequency
    Настоящий стандарт распространяется на переключательные СВЧ полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения критической частоты
  • ГОСТ 19656.15-84.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения теплового сопротивления переход-корпус и импульсного теплового сопротивления
    Semiconductor UHF diodes. Measurement methods of thermal resistance and pulse thermal resistance
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ и устанавливает методы измерения тепловых сопротивлений
  • ГОСТ 19656.15-84.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения теплового сопротивления переход-корпус и импульсного теплового сопротивления
    Semiconductor UHF diodes. Measurement methods of thermal resistance and pulse thermal resistance
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ и устанавливает методы измерения тепловых сопротивлений
  • ГОСТ 19656.15-84.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения теплового сопротивления переход-корпус и импульсного теплового сопротивления
    Semiconductor UHF diodes. Measurement methods of thermal resistance and pulse thermal resistance
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ и устанавливает методы измерения тепловых сопротивлений
  • ГОСТ 19656.16-86.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ ограничительные. Метод измерения пороговой и просачивающейся мощностей
    Semiconductor microwave limiter diodes. Measurement method of break-down and leakage powers
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые ограничительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения пороговой и просачивающейся мощностей в непрерывном режиме
  • ГОСТ 19656.16-86.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ ограничительные. Метод измерения пороговой и просачивающейся мощностей
    Semiconductor microwave limiter diodes. Measurement method of break-down and leakage powers
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые ограничительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения пороговой и просачивающейся мощностей в непрерывном режиме
  • ГОСТ 19656.16-86.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ ограничительные. Метод измерения пороговой и просачивающейся мощностей
    Semiconductor microwave limiter diodes. Measurement method of break-down and leakage powers
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые ограничительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения пороговой и просачивающейся мощностей в непрерывном режиме
  • ГОСТ 19834.4-79.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые излучающие инфракрасные. Методы измерения мощности излучения
    Semiconductor radiating infra-red diodes. Methods of measurement of radiation power
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые инфракрасные излучающие диоды некогерентного излучения и устанавливает методы измерения мощности излучения от 1 до 5 Вт в диапазоне длин волн 0,7-2,0 мкм: метод непосредственной оценки и метод замещения
  • ГОСТ 19834.4-79.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые излучающие инфракрасные. Методы измерения мощности излучения
    Semiconductor radiating infra-red diodes. Methods of measurement of radiation power
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые инфракрасные излучающие диоды некогерентного излучения и устанавливает методы измерения мощности излучения от 1 до 5 Вт в диапазоне длин волн 0,7-2,0 мкм: метод непосредственной оценки и метод замещения

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14