+7 (499) 113-42-74

Работаем по всей России

Закрыть
Закрыть

ОКС. Общероссийский классификатор стандартов

База ГОСТов РФ

Общероссийский классификатор стандартовЭЛЕКТРОНИКАПолупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045Диоды

31.080.10. Диоды

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14

  • ГОСТ 19656.5-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Методы измерения шумового отношения
    Semiconductor UHF mixer and detector diodes. Measurement methods of output noise ratio
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ смесительные и детекторные и устанавливает 2 метода измерения шумового отношения при возбуждении диода:
    СВЧ мощностью (в диапазоне частот от 0,3 до 78,3 ГГц);
    постоянным током
  • ГОСТ 19656.6-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения нормированного коэффициента шума
    Semiconductor UHF mixer diodes. Measurement methods of standard overall noise figure
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые смесительные диоды СВЧ и устанавливает в диапазоне частот от 0,3 до 78,3 ГГц два метода измерения нормированного коэффициента шума Fнорм:
    метод шумового генератора;
    метод определения Fнорм по измененным значениям потерь преобразования и шумового отношения
  • ГОСТ 19656.6-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения нормированного коэффициента шума
    Semiconductor UHF mixer diodes. Measurement methods of standard overall noise figure
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые смесительные диоды СВЧ и устанавливает в диапазоне частот от 0,3 до 78,3 ГГц два метода измерения нормированного коэффициента шума Fнорм:
    метод шумового генератора;
    метод определения Fнорм по измененным значениям потерь преобразования и шумового отношения
  • ГОСТ 19656.6-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения нормированного коэффициента шума
    Semiconductor UHF mixer diodes. Measurement methods of standard overall noise figure
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые смесительные диоды СВЧ и устанавливает в диапазоне частот от 0,3 до 78,3 ГГц два метода измерения нормированного коэффициента шума Fнорм:
    метод шумового генератора;
    метод определения Fнорм по измененным значениям потерь преобразования и шумового отношения
  • ГОСТ 19656.7-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Метод измерения чувствительности по току
    Semiconductor UHF detector diodes. Measurement method of current sensitivity
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ детекторные и устанавливает метод измерения чувствительности по току бета в рабочей точке в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц
  • ГОСТ 19656.7-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Метод измерения чувствительности по току
    Semiconductor UHF detector diodes. Measurement method of current sensitivity
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ детекторные и устанавливает метод измерения чувствительности по току бета в рабочей точке в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц
  • ГОСТ 19656.7-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Метод измерения чувствительности по току
    Semiconductor UHF detector diodes. Measurement method of current sensitivity
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ детекторные и устанавливает метод измерения чувствительности по току бета в рабочей точке в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц
  • ГОСТ 19656.9-79.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные. Методы измерения постоянной времени и предельной частоты
    Semiconductor microwave varactors and multiplier diodes. Methods of measuring time constant and limiting frequency
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные диоды и устанавливает следующие методы измерения постоянной времени и предельной частоты:
    метод четырехполюсника;
    метод последовательного резонанса диода;
    резонаторный метод.
    Методы измерения постоянной времени и предельной частоты диода учитывают потери в измерительной диодной камере
  • ГОСТ 19656.9-79.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные. Методы измерения постоянной времени и предельной частоты
    Semiconductor microwave varactors and multiplier diodes. Methods of measuring time constant and limiting frequency
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные диоды и устанавливает следующие методы измерения постоянной времени и предельной частоты:
    метод четырехполюсника;
    метод последовательного резонанса диода;
    резонаторный метод.
    Методы измерения постоянной времени и предельной частоты диода учитывают потери в измерительной диодной камере
  • ГОСТ 19656.9-79.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные. Методы измерения постоянной времени и предельной частоты
    Semiconductor microwave varactors and multiplier diodes. Methods of measuring time constant and limiting frequency
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные диоды и устанавливает следующие методы измерения постоянной времени и предельной частоты:
    метод четырехполюсника;
    метод последовательного резонанса диода;
    резонаторный метод.
    Методы измерения постоянной времени и предельной частоты диода учитывают потери в измерительной диодной камере

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14