+7 (499) 113-42-74

Работаем по всей России

Закрыть
Закрыть

ОКС. Общероссийский классификатор стандартов

База ГОСТов РФ

Общероссийский классификатор стандартовЭЛЕКТРОНИКАИнтегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160

31.200. Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 1217 18 19 20 21

  • ГОСТ 23089.7-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
    Integrated circuits. Method of measuring the power sources instability effect on the operational amplifiers zero drift voltage and emf
    Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с. смещения нуля
  • ГОСТ 23089.7-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
    Integrated circuits. Method of measuring the power sources instability effect on the operational amplifiers zero drift voltage and emf
    Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с. смещения нуля
  • ГОСТ 23089.7-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
    Integrated circuits. Method of measuring the power sources instability effect on the operational amplifiers zero drift voltage and emf
    Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с. смещения нуля
  • ГОСТ 23089.8-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
    Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers average temperature voltage drift and zero offset emf
    Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с
  • ГОСТ 23089.8-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
    Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers average temperature voltage drift and zero offset emf
    Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с
  • ГОСТ 23089.8-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
    Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers average temperature voltage drift and zero offset emf
    Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с
  • ГОСТ 23089.9-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа входных токов и разности входных токов операционных усилителей
    Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers input bias current temperature drift and input currents
    Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа разности входных токов и входных токов
  • ГОСТ 23089.9-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа входных токов и разности входных токов операционных усилителей
    Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers input bias current temperature drift and input currents
    Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа разности входных токов и входных токов
  • ГОСТ 23089.9-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа входных токов и разности входных токов операционных усилителей
    Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers input bias current temperature drift and input currents
    Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа разности входных токов и входных токов
  • ГОСТ 23089.10-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения операционных усилителей
    Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers output voltage maximum build-up rate and time
    Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 1217 18 19 20 21