+7 (499) 113-42-74

Работаем по всей России

Закрыть
Закрыть

ОКС. Общероссийский классификатор стандартов

База ГОСТов РФ

Общероссийский классификатор стандартовЭЛЕКТРОНИКА

31. ЭЛЕКТРОНИКА

1 2 3 4 5127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137245 246 247 248 249

  • ГОСТ 23089.6-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Метод измерения времени установления выходного напряжения операционных усилителей
    Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers output voltage settling time
    Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения времени установления выходного напряжения
  • ГОСТ 23089.7-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
    Integrated circuits. Method of measuring the power sources instability effect on the operational amplifiers zero drift voltage and emf
    Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с. смещения нуля
  • ГОСТ 23089.7-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
    Integrated circuits. Method of measuring the power sources instability effect on the operational amplifiers zero drift voltage and emf
    Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с. смещения нуля
  • ГОСТ 23089.7-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
    Integrated circuits. Method of measuring the power sources instability effect on the operational amplifiers zero drift voltage and emf
    Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с. смещения нуля
  • ГОСТ 23089.8-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
    Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers average temperature voltage drift and zero offset emf
    Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с
  • ГОСТ 23089.8-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
    Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers average temperature voltage drift and zero offset emf
    Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с
  • ГОСТ 23089.8-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
    Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers average temperature voltage drift and zero offset emf
    Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с
  • ГОСТ 23089.9-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа входных токов и разности входных токов операционных усилителей
    Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers input bias current temperature drift and input currents
    Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа разности входных токов и входных токов
  • ГОСТ 23089.9-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа входных токов и разности входных токов операционных усилителей
    Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers input bias current temperature drift and input currents
    Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа разности входных токов и входных токов
  • ГОСТ 23089.9-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа входных токов и разности входных токов операционных усилителей
    Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers input bias current temperature drift and input currents
    Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа разности входных токов и входных токов

1 2 3 4 5127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137245 246 247 248 249