+7 (499) 113-42-74

Работаем по всей России

Закрыть
Закрыть

ОКС. Общероссийский классификатор стандартов

База ГОСТов РФ

Общероссийский классификатор стандартовЭЛЕКТРОНИКА

31. ЭЛЕКТРОНИКА

1 2 3 4 5152 153 154 155 156 157 158 159 160 161 162245 246 247 248 249

  • ГОСТ 24613.8-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
    Optoelectronic integrated microcircuits and optocouples. Methods for measuring of critical change rate of dielectric voltage
    Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов, и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный.
    Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора
  • ГОСТ 24613.8-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
    Optoelectronic integrated microcircuits and optocouples. Methods for measuring of critical change rate of dielectric voltage
    Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов, и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный.
    Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора
  • ГОСТ 24613.8-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
    Optoelectronic integrated microcircuits and optocouples. Methods for measuring of critical change rate of dielectric voltage
    Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов, и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный.
    Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора
  • ГОСТ 24613.9-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров
    Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring switching times
    Настоящий стандарт распространяется на оптоэлекронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения временных параметров: времени включения, времени выключения, времени спада, времени нарастания, времени задержки, времени сохранения, времени перехода при включении, времени перехода при выключении, времени задержки распространения сигнала при включении, времени задержки распространения сигнала при выключении, времени задержки включения, времени задержки выключения.
    Стандарт не распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов и нагрузки и тиристорные оптопары
  • ГОСТ 24613.9-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров
    Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring switching times
    Настоящий стандарт распространяется на оптоэлекронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения временных параметров: времени включения, времени выключения, времени спада, времени нарастания, времени задержки, времени сохранения, времени перехода при включении, времени перехода при выключении, времени задержки распространения сигнала при включении, времени задержки распространения сигнала при выключении, времени задержки включения, времени задержки выключения.
    Стандарт не распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов и нагрузки и тиристорные оптопары
  • ГОСТ 24613.9-83.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров
    Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring switching times
    Настоящий стандарт распространяется на оптоэлекронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения временных параметров: времени включения, времени выключения, времени спада, времени нарастания, времени задержки, времени сохранения, времени перехода при включении, времени перехода при выключении, времени задержки распространения сигнала при включении, времени задержки распространения сигнала при выключении, времени задержки включения, времени задержки выключения.
    Стандарт не распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов и нагрузки и тиристорные оптопары
  • ГОСТ 24613.10-77.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
    Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring noise current and noise voltage for low and high levels of logic signal switches
    Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней
  • ГОСТ 24613.10-77.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
    Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring noise current and noise voltage for low and high levels of logic signal switches
    Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней
  • ГОСТ 24613.10-77.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
    Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring noise current and noise voltage for low and high levels of logic signal switches
    Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней
  • ГОСТ 24613.11-77.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
    Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring input voltage for low and high levels of logic signal switches
    Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней

1 2 3 4 5152 153 154 155 156 157 158 159 160 161 162245 246 247 248 249