+7 (499) 113-42-74

Работаем по всей России

Закрыть
Закрыть

ОКС. Общероссийский классификатор стандартов

База ГОСТов РФ

Общероссийский классификатор стандартовЭЛЕКТРОНИКА

31. ЭЛЕКТРОНИКА

1 2 3 4 567 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77245 246 247 248 249

  • ГОСТ 19656.6-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения нормированного коэффициента шума
    Semiconductor UHF mixer diodes. Measurement methods of standard overall noise figure
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые смесительные диоды СВЧ и устанавливает в диапазоне частот от 0,3 до 78,3 ГГц два метода измерения нормированного коэффициента шума Fнорм:
    метод шумового генератора;
    метод определения Fнорм по измененным значениям потерь преобразования и шумового отношения
  • ГОСТ 19656.7-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Метод измерения чувствительности по току
    Semiconductor UHF detector diodes. Measurement method of current sensitivity
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ детекторные и устанавливает метод измерения чувствительности по току бета в рабочей точке в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц
  • ГОСТ 19656.7-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Метод измерения чувствительности по току
    Semiconductor UHF detector diodes. Measurement method of current sensitivity
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ детекторные и устанавливает метод измерения чувствительности по току бета в рабочей точке в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц
  • ГОСТ 19656.7-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Метод измерения чувствительности по току
    Semiconductor UHF detector diodes. Measurement method of current sensitivity
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ детекторные и устанавливает метод измерения чувствительности по току бета в рабочей точке в диапазоне частот от 0,3 до 300 ГГц
  • ГОСТ 19656.9-79.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные. Методы измерения постоянной времени и предельной частоты
    Semiconductor microwave varactors and multiplier diodes. Methods of measuring time constant and limiting frequency
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные диоды и устанавливает следующие методы измерения постоянной времени и предельной частоты:
    метод четырехполюсника;
    метод последовательного резонанса диода;
    резонаторный метод.
    Методы измерения постоянной времени и предельной частоты диода учитывают потери в измерительной диодной камере
  • ГОСТ 19656.9-79.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные. Методы измерения постоянной времени и предельной частоты
    Semiconductor microwave varactors and multiplier diodes. Methods of measuring time constant and limiting frequency
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные диоды и устанавливает следующие методы измерения постоянной времени и предельной частоты:
    метод четырехполюсника;
    метод последовательного резонанса диода;
    резонаторный метод.
    Методы измерения постоянной времени и предельной частоты диода учитывают потери в измерительной диодной камере
  • ГОСТ 19656.9-79.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные. Методы измерения постоянной времени и предельной частоты
    Semiconductor microwave varactors and multiplier diodes. Methods of measuring time constant and limiting frequency
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные диоды и устанавливает следующие методы измерения постоянной времени и предельной частоты:
    метод четырехполюсника;
    метод последовательного резонанса диода;
    резонаторный метод.
    Методы измерения постоянной времени и предельной частоты диода учитывают потери в измерительной диодной камере
  • ГОСТ 19656.10-88.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные переключательные и ограничительные. Методы измерения сопротивлений потерь
    Semiconductor microwave switching and limiter diodes. Methods of measuring loss resistances
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые переключательные и ограничительные сверхвысокочастотные диоды и устанавливает следующие методы измерения сопротивлений потерь в диапазоне частот 0,3-10 ГГц:
    1) сопротивления потерь при низком уровне СВЧ мощности ограничительных СВЧ диодов;
    2) прямого сопротивления потерь переключательных и ограничительных СВЧ диодов и обратного сопротивления потерь переключательных СВЧ диодов:
    а) метод измерительной линии с подвижным зондом;
    б) метод измерительной линии с фиксированным зондом;
    в) резонаторный метод
  • ГОСТ 19656.10-88.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные переключательные и ограничительные. Методы измерения сопротивлений потерь
    Semiconductor microwave switching and limiter diodes. Methods of measuring loss resistances
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые переключательные и ограничительные сверхвысокочастотные диоды и устанавливает следующие методы измерения сопротивлений потерь в диапазоне частот 0,3-10 ГГц:
    1) сопротивления потерь при низком уровне СВЧ мощности ограничительных СВЧ диодов;
    2) прямого сопротивления потерь переключательных и ограничительных СВЧ диодов и обратного сопротивления потерь переключательных СВЧ диодов:
    а) метод измерительной линии с подвижным зондом;
    б) метод измерительной линии с фиксированным зондом;
    в) резонаторный метод
  • ГОСТ 19656.10-88.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные переключательные и ограничительные. Методы измерения сопротивлений потерь
    Semiconductor microwave switching and limiter diodes. Methods of measuring loss resistances
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые переключательные и ограничительные сверхвысокочастотные диоды и устанавливает следующие методы измерения сопротивлений потерь в диапазоне частот 0,3-10 ГГц:
    1) сопротивления потерь при низком уровне СВЧ мощности ограничительных СВЧ диодов;
    2) прямого сопротивления потерь переключательных и ограничительных СВЧ диодов и обратного сопротивления потерь переключательных СВЧ диодов:
    а) метод измерительной линии с подвижным зондом;
    б) метод измерительной линии с фиксированным зондом;
    в) резонаторный метод

1 2 3 4 567 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77245 246 247 248 249