+7 (499) 113-42-74

Работаем по всей России

Закрыть
Закрыть

ОКС. Общероссийский классификатор стандартов

База ГОСТов РФ

Общероссийский классификатор стандартовЭЛЕКТРОНИКА

31. ЭЛЕКТРОНИКА

1 2 3 4 571 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81245 246 247 248 249

  • ГОСТ 19798-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Фотоэлементы. Общие технические условия
    Photocells. General specifications
    Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и фотоумножители, содержащие один каскад усиления, предназначенные для преобразования сигналов оптического излучения в электрические и изготавливаемые для нужд народного хозяйства и для экспорта
  • ГОСТ 19798-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Фотоэлементы. Общие технические условия
    Photocells. General specifications
    Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и фотоумножители, содержащие один каскад усиления, предназначенные для преобразования сигналов оптического излучения в электрические и изготавливаемые для нужд народного хозяйства и для экспорта
  • ГОСТ 19798-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Фотоэлементы. Общие технические условия
    Photocells. General specifications
    Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и фотоумножители, содержащие один каскад усиления, предназначенные для преобразования сигналов оптического излучения в электрические и изготавливаемые для нужд народного хозяйства и для экспорта
  • ГОСТ 19799-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные аналоговые. Методы измерения электрических параметров и определения характеристик
    Analog integrated circuits. Methods for measurement of electric parameters and determination of responses
    Настоящий стандарт распространяется на интегральные аналоговые микросхемы и устанавливает методы измерения электрических параметров и определения характеристик. Стандарт не распространяется на коммутаторы и ключи, на компараторы напряжения в части методов 1580, 1581, 2500, 2501 и операционные усилители
  • ГОСТ 19799-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные аналоговые. Методы измерения электрических параметров и определения характеристик
    Analog integrated circuits. Methods for measurement of electric parameters and determination of responses
    Настоящий стандарт распространяется на интегральные аналоговые микросхемы и устанавливает методы измерения электрических параметров и определения характеристик. Стандарт не распространяется на коммутаторы и ключи, на компараторы напряжения в части методов 1580, 1581, 2500, 2501 и операционные усилители
  • ГОСТ 19799-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Микросхемы интегральные аналоговые. Методы измерения электрических параметров и определения характеристик
    Analog integrated circuits. Methods for measurement of electric parameters and determination of responses
    Настоящий стандарт распространяется на интегральные аналоговые микросхемы и устанавливает методы измерения электрических параметров и определения характеристик. Стандарт не распространяется на коммутаторы и ключи, на компараторы напряжения в части методов 1580, 1581, 2500, 2501 и операционные усилители
  • ГОСТ 19834.0-75.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Излучатели полупроводниковые. Общие требования при измерении параметров
    Semiconductor emitters. Methods for measurement of parameters. General principles
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели и устанавливает положения, общие для стандартов на методы измерений спектрофотометрических, преобразовательных и электрических параметров полупроводниковых излучателей. Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения параметров полупроводниковых излучателей
  • ГОСТ 19834.0-75.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Излучатели полупроводниковые. Общие требования при измерении параметров
    Semiconductor emitters. Methods for measurement of parameters. General principles
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели и устанавливает положения, общие для стандартов на методы измерений спектрофотометрических, преобразовательных и электрических параметров полупроводниковых излучателей. Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения параметров полупроводниковых излучателей
  • ГОСТ 19834.0-75.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Излучатели полупроводниковые. Общие требования при измерении параметров
    Semiconductor emitters. Methods for measurement of parameters. General principles
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели и устанавливает положения, общие для стандартов на методы измерений спектрофотометрических, преобразовательных и электрических параметров полупроводниковых излучателей. Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения параметров полупроводниковых излучателей
  • ГОСТ 19834.2-74.
    действующий
    от: 01.08.2013
    Излучатели полупроводниковые. Методы измерения силы излучения и энергетической яркости
    Semiconductor emitters. Methods for measurement of radiant intensity and radiance
    Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения, в том числе бескорпусные и устанавливает методы измерения силы излучения: метод непосредственной оценки;
    метод замещения;
    методы измерения энергетической яркости: прямой и косвенный

1 2 3 4 571 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81245 246 247 248 249